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產(chǎn)品中心半導(dǎo)體專用檢測(cè)儀器設(shè)備RESmap 低電阻率測(cè)試儀
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電阻率測(cè)試儀（RESmap ）在對(duì)低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測(cè)量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge | 化合物半導(dǎo)體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬 | 導(dǎo)電 | 氧化物和氮化物[ Ge | Si | SiC | InP | GaAs | GaN | InAs以及更多]
更新時(shí)間：2026-07-13
產(chǎn)品型號(hào)：RESmap-1
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